影響測量儀的發(fā)展趨勢

全自動影響測量儀是在數(shù)字化影像測量儀基礎上發(fā)展起來的人工智能型現(xiàn)代光學費接觸測量儀器，其承續(xù)了數(shù)字化儀器優(yōu)異的運動精度與運動操控性能，融合機器視覺軟件的設計靈性，屬于當今前沿的光學尺寸檢測設備。我司生產的全自動影響測量儀能夠便捷而快速的進行坐標測量與SPC結果分類，滿足現(xiàn)代制造業(yè)對尺寸檢測日益突出的要求：更高速，更便捷，更的測量需要，解決制造業(yè)發(fā)展中的又一個瓶頸技術。

全自動影響測量基于機器視覺的自動邊緣提取，自動取匹，自動對焦，測量合成，影響合成等人工智能技術，具有：點哪走哪自動測量，自動學習批量測量，影響地圖目標指引優(yōu)異功能。同時，基于機器視覺與微米控制下的自動對焦過程，可以滿足清晰造影下輔助測高需要（亦可加入觸電側頭完成坐標測高），支持空間坐標旋轉的優(yōu)異軟件性能，可在工件隨意放置的情況下進行批量測量，亦可使用夾具進行大批量掃描測量與SPC結果分類。

全自動影響測量儀是影像測量技術的階段，具有高度智能化與自動化特點。其優(yōu)異的軟硬件性能讓坐標尺寸變得便捷而愜意，擁有基于機器視覺與過程控制的自動學習功能，依托數(shù)字化儀器高速而的微米級走位，可將測量過程的路徑，對焦，選點功能切換，人工修正，燈光匹配等操作過程自學并記憶。

全自動影響測量儀可以輕松學會操作員的所有實操過程，結合其自動對焦和區(qū)域搜尋功能，目標鎖定，邊緣提取，理匹選點的模糊運算實現(xiàn)人工智能，可自動修正由工件差異和走位差別導致的便宜實現(xiàn)選點，具有高精度的重復性，從而使操作人員從疲勞目視對位，頻繁選點，重復走位，功能切換等單調操作和日益繁重的待測任務中解脫出來，成倍的提高工件批測效率，滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。