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無損檢測ROHS環(huán)保測試儀
能量色散 X 熒光光譜儀簡稱 XRF，是一種物理的元素分析方法。近年來 XRF 主要作為一種快速檢測手段在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了很大的作用。XRF 具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢。在環(huán)保領(lǐng)域和食品領(lǐng)域，XRF 通過直接測試的方法，快速篩選出樣品中的有害元素是否超出標準。XRF W7 在金屬成分檢測方法具有*的測試表現(xiàn)，可以測試銅合金的成分，鐵合金的成分，鋁合金的成分，測試穩(wěn)定性和準確率在行業(yè)內(nèi)表現(xiàn)優(yōu)秀。
XRF W7 對測試電鍍鍍層應(yīng)用廣泛，可以測試鐵鍍鋅，鐵鍍鉻，銅鍍鎳金，銅鍍錫，……另外，XRF 在現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面的應(yīng)用很廣，例如廢舊金屬回收，土壤現(xiàn)場檢測，在線物料檢測等。XRF W7 產(chǎn)品應(yīng)用測試是全開放式，在教學、科研實驗領(lǐng)域能夠帶來很大的應(yīng)用價值。
無損檢測ROHS環(huán)保測試儀
熒光光譜測試儀產(chǎn)品參數(shù)
元素分析范圍 | 從硫 S-鈾 U 之間的元素 重金屬有害元素/鹵素/八大重金屬等 合金：銅材，鐵合金，鎳合金，錫合金，鈦合金，貴金屬 鍍層：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe |
樣品范圍 | 固體、液體、粉末； |
低檢出限 | 輕基體有害元素 2ppm 左右。 成分分析：0.01%--99.99% 鍍層分析：0.0035um--40um |
測試時間 | 60s-200s(軟件自動調(diào)整) |
X 射線源 | 型號：GT-50-Mo 生產(chǎn)廠家：東莞高天 X 射線光管（*） 窗口材料：金屬鈹 |
X 光管適用壽命 | 大于 20000 小時 |
探測器 | 型號100CR+ DP5+PX5 生產(chǎn)廠家：美國 Amptek 電制冷 Si-Pin 探測器 分辨率 145ev±5 1mil 鈹窗厚度（X123 由 100CR+DP5+PX5） |
高壓電源 | X3513 咸陽威思曼生產(chǎn) 0-50kev，0-2mA 大 50W |
高壓保護措施 | 過壓自保護，自恢復 6 / 12 |
高清晰攝像定位系統(tǒng) | 清晰精準 |
集成工業(yè)計算機 | 2G 內(nèi)存，1.6G 雙核 CPU 操作系統(tǒng)：Windows7 無需外接電腦 |
準直器 | 光斑φ1mm、3mm、4mm(軟件自動選擇) |
工作環(huán)境溫度 | 溫度:15-30℃ |
工作環(huán)境相對濕度 | ≤85% （不結(jié)露 No dew） |
輸入電源 | AC 220V±15%，50Hz |
額定功率 | 128W |
儀器尺寸 | 650mm*450mm*350mm |
樣品腔尺寸 | 280mm*280mm*200mm |
重量 | 約 32Kg |
輻射防護標準 | 符合 GB18871-2002 GBZ115-2002 標準 |
